X熒光/X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）

簡要描述：X熒光/X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）Thick800D：是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

產(chǎn)品型號(hào)：Thick800D
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-01-23
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產(chǎn)品介紹

X熒光/X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

X熒光/X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。
一次可同時(shí)分析zui多24個(gè)元素，五層鍍層。
分析檢出限可達(dá)2ppm，zui薄可測(cè)試0.005μm。
分析含量一般為2ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%
長期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
儀器尺寸：534（W） x 480 （D） x525（H） mm
重量：80 kG

標(biāo)準(zhǔn)配置:
高低壓電源（美國Spellman進(jìn)口）
大功率X光管（英國Oxford牛津進(jìn)口）
電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器（美國AMPTEK進(jìn)口）
多道分析器（美國進(jìn)口）
控制電路
高壓單元
移動(dòng)樣品臺(tái)
高清晰CCD
準(zhǔn)直器：含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一個(gè)
濾光片：5組濾光片
計(jì)算機(jī)：品牌商務(wù)電腦（內(nèi)存2G、硬盤200G），17寸液晶顯示器
打印機(jī)：彩色噴墨打印機(jī)